运行中的瓷绝缘子工频击穿电压低于干闪电压时，该绝缘子即为劣化绝缘子， 绝缘已经被击穿的绝缘子，称为零值绝缘子。当绝缘子串内有零值绝缘子时， 其污闪概率以及在过电压作用下的闪络概率都很高，甚至正常运行电压下也会 发生闪络，短路电流将会通过零值绝缘子的内部间隙，大电流的热效应可能造成 瓷件与头部断裂开、铸铁帽炸裂、钢脚脱落、瓷件头部烧成玻璃体等，从而出现 绝缘子掉串和导线掉线等一系列事故。目前国内检测零值绝缘子的主要方法有电压分布法、 泄露电流测量法、红外热像法、绝缘电阻测量法等。

分布电压测量法：当绝缘子串中有零值绝缘子，将明显影响绝缘子串的电压分布，根据这一原理， 宏博测控研发生产的HB-VD30绝缘子分布电压测试仪可以高效带电检测运行中的零值绝缘子。

红外热像法：根据劣化绝缘子的热像特征与正常绝缘子相比的热像色差，检测时如发现绝缘子串中 温度分布不连续且有亮色调的热像，既可判定其为低值、零值绝缘子。

绝缘电阻测量法：根据劣化绝缘子的电阻值降低这一缺陷，宏博测控研发生产的HB-RT20绝缘子电阻测试仪 ，可带电定量测量出每一片绝缘子的电阻值，同时能准确区分已经漏电但尚未击穿处于临界损坏的绝缘子， 并将检测结果以数据形式实时记录存储显示，对低值、零值绝缘子自动报警提示。